遺傳性腦肌病與基因突變

人的多種遺傳疾病與線粒體tRNA基因突變有關，這些突變導致疾病發生的分子機理是當前研究的熱點.通過研究線粒體tRNA分子上的堿基修飾情況，人們發現了一類特殊的帶有牛磺酸衍生物基團的修飾，這類修飾主要位于線粒體tRNA^Lys和線粒體tRNA^Leu(UUR)反密碼子第一位擺動(wobble)位點的堿基上.最近的研究表明，位于這兩種線粒體tRNA基因上的多種突變與遺傳性腦肌病相關，包括A8344G，A3243G，T3271C等等，它們可以導致tRNA上相應擺動位點的堿基修飾缺失.無論是在體外培養的帶有相應突變的細胞內，還是在來源于腦肌病病人的組織中，科學家都發現了相同的線粒體tRNA堿基修飾缺陷.通過分子手術證實，此類堿基修飾對于維持這兩種tRNA的反密碼子與mRNA上相應密碼子的相互識別至關重要，缺失了這種修飾的tRNA將無法識別一些對應的密碼子.通過進一步的實驗，人們還鑒定出負責催化此類堿基修飾的酶.這些研究不但揭示了線粒體遺傳性腦肌病相關突變的致病機理，也將為研究基因治療提供可能的新手段。